1.质谱仪

由分析场将离子束分离成不同质荷比的组分，并在整个立体角上同时记录各种质荷比离子的仪器。

2.质谱计

借助于改变分析场的工作参数来记录质谱的仪器，即，质谱的记录利用了时间因素。此外，这类仪器的质谱记录都利用了电子学方法。

3.静态质谱计

仪器分析场的工作参数(电场、磁场和离子偏转半径)在质量分离过程中不随时间改变。随时间改变工作参数只是为了连续记录质谱，而不是质量分离所必须。

4.动态质谱计

质谱计的分析场在质量分离过程中利用了时间因素，即，分析场一个或几个工作参数(电场、电场频率和磁场)是随时间而变化的。

5.质谱

表征质谱计中由样品所卢生的离子种类和相对量的任何一种显示，如，笔录式记录仪图形、示波器图形等。

6.峰(质量峰，质谱峰)

质谱中，某种质荷比离子的输出信号图形。因为这种离子流图形是由某种质荷比的离子所产生的，因此也称之为质量峰。例如“质量28的峰”。

7.碎片图形(离子谱)

质谱计在一定工作条件下，由给定的样品所产生的离子特征图形(即离子种类和它们的相对量)。

8.图形系数

表征碎片图形(离子谱)中，各种质荷比的离子的相对丰度系数。它定义为图形系数(詈)i=寻蠢xioo% c他一71，式中H(m几)b为基准峰的质荷比。图形系数为100的峰称基准峰。

9.母峰

未分解的的分子态离子的峰。但母峰不一定是碎片图形中的基准峰。

10.碎片峰

伴随分子电离而分解成碎片离子的峰。

11.同位素峰

通常，同位素是天然存在的，为了区别于碎片峰，称之为同位素峰。当然，碎片离子峰也存在同位素峰。

12.重排峰

碎片离子与别的原子或分子等重新排列结合成的峰。

13.双电荷峰

因离子源的电子能量高于样品的电离电位，原子或分子在电离过程中可能失去两个电子，这种离子的峰称双电荷峰。在通常的电子能量下，三电荷峰是极小的。

14.亚稳态峰

亚稳态离子所形成的峰。

15.扫描参数

表征质谱计分析器的电场或磁场的参数(电压、频率和磁感应强度等)。这种参数的变化可以使离子检测器接受到不同质荷比的离子。

16.扫描

改变扫描参数的过程。它使质谱计在整个工作质量范围或部分质量范围内获得一个质谱。

17.质量数

z*接近离子质量的整数，用[u]表示，也可用原子量或分子量来表示。例如，氖的一种同位素的原子质量为19.9987[u]，称它的质量数为20。另一种表达法为，质量数是原子核内质子和中子数的总和。

18.质量范围(工作质量范围)

质谱计能进行有效分析的整个质量范围，用检测z*小和z*大的单电荷离子之间的质量范围来表示。

19.质量歧视效应

对于具有相同压力的不同质量气体组分，质谱计给出不同的输出指示的特性。它是由离子源、分析器和离子检测器(如电子倍增器)的性能造成的。在分压力校准中，通常只能测量质谱计全面的歧视效应，所以在实测的歧视效应中还包括电离截面效应。